一种静电放电测试装置及其方法，用以寻找待测物中测试失败对象。首先，放置待测物于布设有数条导线的测试平台。接着，提供静电脉冲至这些导线的其中一导线。后，若待测物发生误动作，则待测物中对应导线的一区域内具有测试失败对象。
技术领域：
本发明有关一种静电放电测试技术，且特别是有关一种静电放电测试装置及 其方法。
背景技术：
静电放电（Electrostatic Discharge, ESD)是造成大多数的电子组件或电 子系统受到过度电性应力（Electrical Overstress ， EOS)破坏的主要因素。这种
破坏会导致半导体组件以及计算机系统等，产生误动作或形成一种性的毁坏， 因而影响集成电路（Integrated Circuits, ICs)的电路功能，而使得电子产品工 作不正常。因此，目前市面上所见的电子产品均须通过电磁兼容测试中的静电放 电测试后才能贩售。目前在进行静电放电测试时，通常是利用符合法规规范的静 电仿真器（electrostatic discharge generator, ESD generator)(又称为静 电枪）来产生静电，以放电至待测产品，借此测试产品是否有静电放电缺陷。
一般来说，在利用一调整至默认值（例如：4 KV)的静电枪进行静电放电测 试时，是将静电枪碰触待测产品的外部壳体的一处，以使得静电电荷能够分布至 整个产品。若待测产品仍然可以正常操作，则代表待测产品通过测试。若待测产 品在进行静电放电测试后，待测产品因此而无法操作或产生误动作的情形，则代 表该待测产品有静电放电缺陷。然而，在进行测试时，静电枪是与待测产品的外
部壳体碰触，因此无法轻易得知在待测产品内部那一个地方发生静电问题。例如：
利用静电枪对一个计算机主机的壳体表面打入静电电荷，结果该计算机主机马上 死机。此时，测试人员往往无法马上得知该计算机主机死机的原因，更无法直接 找出是因为计算机主机的主机板上的那一个电子组件发生问题。
因此，目前在进行静电放电测试时，往往需要依靠测试人员的经验来推测出 发生静电问题之处，然后反复检测可能导致产品误动作的相关组件。如此，将非
4常耗费人力及检测工时
有鉴于此，本发明的目的是提供一种静电放电测试装置及其方法，用以 寻找待测物中测试失败对象。主要利用数条导线来作为静电脉冲的放电路径， 借以定义待测物受静电影响的区域。如此一来，提高寻找待测物中测试失败 对象的精确度外，还大幅度节省工时及成本并增加产品良率。
根据本发明的目的，提出一种静电放电测试装置，包括测试平台及数条 导线。测试平台用以放置待测物，数条导线布设于测试平台。当静电脉冲被 提供至这些导线的其中一导线且待测物发生误动作时，则待测物中对应导线 的 一 区域内具有测试失败对象。
根据本发明的目的，提出一种静电放电测试方法，用以寻找待测物中测 试失败对象。首先，放置待测物于布设有数条导线的测试平台。接着，提供 静电脉冲至这些导线的其中一导线。后，若待测物发生误动作，则待测物 中对应导线的一区域内具有测试失败对象。
为让本发明的上述目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举较佳实 施例，并配合附图进行详细说明如下：
具体实施方式
第--实施例
请参照图1，其是依照本发明实施例的静电放电测试装置的示意图。
5静电放电测试装置100包括测试平台110、静电产生单元120、开关元件130、 及接地接口 140，其中测试平台110布设有多条导线。
上述测试平台110与接地接口 140耦接，以使得测试平台100接地，也 即测试平台110可通过接地接口 140来将其所累积的静电电荷导入接地端， 以避免测试平台110因多次输入静电脉冲P而累积过多静电，导致使用者可 能受到危害。
开关元件130分别耦接测试平台110的这些导线与静电产生单元120。测 试平台110具有一表面S，用以放置处于正常操作状态的待测物D (以虚线框 表示）。于本实施例中，测试平台110为一印刷电路板（printed circuit board, PCB)，在其它实施例中，测试平台110也可为其它能够布设这些导线的等效 装置。于本实施例中，待测物D为计算机装置的主机板，在其它实施例中， 待测物D可为笔记本计算机、手机、或个人数字助理装置（PDA)。
于本实施例中，这些导线包括多条导线Ll?Ln及多条第二导线Ll'? Lm'，其中n及m为正整数。由于本实施例的测试平台110采用印刷电路板来 实施，因此这些导线Ll?Ln及这些第二导线Ll'?Lm'可以利用一般印刷 电路板制作工艺来分别形成于不同层。也即，这些导线Ll?Ln与这些第 二导线Ll'?Lra'分别被布设在不同平面。例如：这些导线Ll?Ln可以被 布设在测试平台110的表面S，而这些第二导线Ll'?Lra'可以被布设在邻近 表面S的另一表面，其中这些导线Ll?Ln所在的表面可以与这些第二导 线Ll'?Lm'所在的表面平行。此外，这些导线Ll?Ln可以彼此相互平行， 这些第二导线Ll'?Lm'也可彼此相互平行。
另外，以上视图来看测试平台110，则被布设于该测试平台110的这些第 一导线Ll?Ln与这些第二导线Ll'?Lm'相互交叉而夹一预设角度，于本实施 例中，该预设角度为90度，也就是说，这些导线Ll?Ln与这些第二导 线Ll'?Lm'彼此正交而形成一类似棋盘格子的二维平面。请注意，虽然这些 导线Ll?Ln与这些第二导线Ll'?Lra'以上视图观的是形成一个二维平 面，但这些导线Ll?Ln与这些第二导线Ll'?Lm'分别位于不同平面，所 以没有直接接触。
当然，在其它实施例中，这些导线Ll?Ln与这些第二导线Ll'?Lm'的夹角可为其它角度，且这些导线Ll?Ln与这些第二导线Ll'?Lm'交叉 所形成的图案、这些导线宽度、彼此间距、及彼此平行与否皆可视所需的精 确度、待测物尺寸、或测试效果考量作设计。
上述静电产生单元120是通过幵关元件130来耦接这些导线Ll?Ln 及这些第二导线Ll'?Lm'。于本实施例中，静电产生单元120采用静电仿真 器 （electrostatic discharge generator, ESD generator) 来产生一静电 脉冲P，其中静电脉冲P较佳为2至5千伏（kV)左右。
由于上述开关元件130分别耦接这些导线Ll?Ln及这些第二导线 Ll'?Lm'，因此静电产生单元120可通过开关元件130的操作，来提供静电 脉冲P至这些导线的其中一导线。进一步说，在进行静电放电测试时，开关 元件130可以被一单芯片或微控制器来控制，使得静电产生单元120所提供 的静电脉冲P可以自动依序（例如：由左至右及由上至下）输出至各导 线Ll?Lri及各第二导线Ll'?Lm'。因此，测试者无需拿着静电枪一一对这些 导线进行静电放电，所以在使用上非常便利。
当静电产生单元120输出静电脉冲P至这些导线的其中一条导线时，可 由使用者判断或通过相关的检测设备如示波器等，来检测待测物D是否发生 不正常的误动作。若待测物D发生误动作，则待测物D中对应该导线的--区 域内具有一测试失败对象。
以待测物D为手机中的零组件为例，输出静电脉冲P至导线Ll时， 可能使用者直接看出屏幕发生严重闪烁，因此，代表待测物D中对应该 导线Ll的一区域内具有一测试失败对象，其中该测试失败对象可能是电子组 件或布线线路。另外，输出静电脉冲P至第二导线L1'时，屏幕可能也发生严 重闪烁或由检测设备检测出手机的收讯讯号发生失真现象。此时，即表示待 测物D中对应导线Ll的区域Al (以斜线表示的水平范围）及对应第二导 线L1'的区域A1'(以斜线表示的垂直范围）包含有测试失败对象。
如此一来，将静电脉冲P输出至各导线来一一进行测试后，后便可得 到例如导线Ll及Ln与第二导线Ll'及Lra'为待测物D发生误动作时的四 导线。由于这些导线Ll?Ln及这些第二导线Ll'?Lm'形成二维平面，因 此便能利用该二维平面来找出测试失败对象的坐标。例如：使用者即可在待测物D中分别对应此四导线的四区域的交会处Cl、 C2、 C3及C4当中寻找测 试失败对象，即针对此四交会处C1?C4来检查相关组件，而无须如同现有检 测方式，需要依靠经验来对整个待测物D找出测试失败对象。
借此，利用静电放电测试装置100可有效减少寻找待测物D中测试失败 对象的时间，且精确度较现有方式也大幅提高。
第二实施例：
其是依照本发明第二实施例的静电放电测试装置与静电产生 单元的示意图。本实施例与上述实施例相类似，但本实施例中的静电放 电测试装置100'未使用开关元件。在本实施例中，静电产生单元120'采用静 电枪来作为静电放电装置。借此，当测试者欲进行静电放电测试时，可选择 地将静电产生单元120'与这些导线Ll?Ln及Ll'?Lm'的其中一导线接触， 而提供静电脉冲P至该导线（如图2的导线L1)。
本实施例与上述实施例的不同处在于，实施例中的静电产生单 元120可以借由开关元件130而自动且分别提供静电脉冲P至这些导线Ll?Ln 及Ll'?Lm'，而在本实施例中，测试者是手动地进行静电放电测试。
第三实施例：
依照本发明第三实施例的静电放电测试装置 的示意图，图3B是图3A的待测物D的另一置放角度示意图。第三实施例与 实施例不同之处在于，静电放电测试装置200的测试平台210仅布设水 平的这些导线11?lri。
此时，以图3A所示的待测物D的置放角度来进行同实施例的测试。 以静电脉冲P测试完各导线11?ln后，例如得到待测物D中对应第-一导 线11的区域al包含测试失败对象。此时，使用者可将待测物D转动--预设 角度，例如顺时针90度，使得这些导线11?1n与待测物D的相对位置 不同，而得到如图3B所示的置放情形。于图3B中，区域al是被转为垂直方 向。然后重新测试各导线U?ln，并得到例如同样对应导线11的区 域al'包含测试失败对象。如此一来，即可如实施例般，以区域al及al'
8的交会处cl (请参照图3B)为待测物D中测试失败对象来作后续检测。 至于上述实施例中所利用的测试方法，以下再结合附图详细说明。 请参照图4，其是依照本发明的抗静电测试方法的流程图。如图4所示， 首先，于步骤401中，放置待测物于一布设有多条导线的测试平台。步骤401 的主要目的是利用数条导线来定义划分待测物的受测区域，借此更精确寻找 出有问题的组件部位。如上述实施例中，待测物D置放于图1的表面S或图3A 的表面S'时，布设于测试平台110或210中的各导线，即有类似坐标的作用。 接着，于步骤402中，提供一静电脉沖至这些导线的其中一导线。测试 时，静电脉冲一次输出至一条导线，且视待测物的尺寸大小，可以仅测试部 分的导线。例如于图1及3A中，以开关元件130 (或230)控制静电产生单 元120 (或220)所提供的静电脉冲P输出至待测物D所涵盖的部分；或者如 图2中，由测试者手动操作静电产生单元120'来提供静电脉冲P。当静电脉 冲P输出至其中一条导线，且待测物D发生误动作时，即可得知待测物D中 与此条导线接近的对应区域含有测试失败对象。
后，于步骤403中，若待测物发生误动作，则于待测物中对应导线的 一区域内具有测试失败对象。如上所述，因为这些区域内含有对静电敏感的 对象，才会使待测物D在对应的邻近导线受到静电脉冲时发生不正常的误动 作。因此可大幅缩小寻找待测物中发生问题的位置范围。此时，如实施 例中，测试完水平的导线及垂直的第二导线后，可直接在待测物D中的 对应区域的交会处来寻找有问题的组件，无须检查待测物D全部区域而更进 一步缩小寻找范围。
此外，于步骤401中，若导线的设置方式使得导线皆位于一平面且相互 平行，如图3A的测试平台210即仅具有水平方向的导线，对于第三实施例而 言，其测试方法于步骤403之后可对此再执行一步骤：转动待测物一预设角 度，使得这些导线与该待测物的相对位置不同，继而再次分别提供该静电脉 冲至这些导线的其中一导线。例如，同第三实施例中以转动待测物D顺时针90 度为例，即可达到同实施例的效果。
当然，本发明所属技术领域中的普通技术人员可以明了本发明的技术并 不局限于上述实施例。首先，导线的设置方式并不限于上述实施例所述。例如，及第二实施例中，测试平台110亦可采用两块印刷电路板来分别具
有导线Ll?Ln及第二导线Ll'?Lm'，且不必然皆位于待测物D同一侧， 可能两块印刷电路板分别位于待测物D的上方及下方。再者，及第二实 施例中导线Ll?Ln与第二导线Ll'?Lm'所夹的角度，或第三实施例中待 测物D与第--导线11?ln的相对转动角度，皆可视需要改变。另，静电产生 单元120 (或220)及开关元件130 (或230)亦可直接设置于印刷电路板上， 而与测试平台110 (或210)结合。当然，于第三实施例中，亦可同第二实施 例般省略开关元件的使用，而由测试者手动操作静电枪来测试各导线。只要 利用数条导线来作为静电脉冲的放电路径，借以定义划分待测物受静电影响 的区域范围，达到寻找出待测物中测试失败对象的目的，皆不脱离本发明的 技术范围。
本发明上述实施例所揭示的静电放电测试装置及其方法，是利用数条导 线来作为静电脉冲的放电路径，借以定义待测物受静电影响的区域。如此一 来，提高寻找待测物中测试失败对象的精确度外，还大幅度节省工时及成本 并增加产品良率。
综上所述，虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然而其并非用以限定
本发明。任何所属技术领域中的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范
围内，当可作各种的等同的更动与润饰。因此，本发明的保护范围当视后附 的本申请权利要求范围所界定的为准。
