标准集团转自中国仪器仪表网。记者2014年度国家科学技术奖励大会上获悉，“机载高精度位置姿态测量系统关键技术及应用”和“单细胞分辨的全脑显微光学切片断层成像技术与仪器”两项由中国仪器仪表学会理事领衔的科研成果荣获“2014年度国家技术发明奖”二等奖。

　　据介绍，“机载高精度位置姿态测量系统关键技术及应用”项目，由中国仪器仪表学会常务理事、北京航空航天大学教授房建成领衔，宋凝芳教授、钟麦英教授等专家共同参与研究。“

　　同时，单细胞分辨的全脑显微光学切片断层成像技术与仪器”项目由中国仪器仪表学会理事、华中科技大学教授骆清铭领衔，龚辉、李安安、曾绍群等共同参与研究。

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